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物料散射對(duì)超聲波物位計(jì)有何影響?
2018-09-04
相信大部分讀者閱讀了標(biāo)題后,心里會(huì)給出一個(gè)答案:超聲波物位計(jì)的測量將會(huì)不準(zhǔn)確。這一回答并不存在實(shí)質(zhì)上的錯(cuò)誤,但是從科學(xué)的角度出發(fā),就難免籠統(tǒng)了些。本文將為大家揭開這一謎底,看看到底物料散射對(duì)超聲波物位計(jì)有何影響。
首先,我們要知道,超聲波物位計(jì)是利用超聲波脈沖信號(hào)(以下簡稱聲波)來傳遞信息的。當(dāng)聲波從一種介質(zhì)向另一種介質(zhì)傳播時(shí),在密度不同、聲波不同的分界面上,其傳播的方向就會(huì)發(fā)生改變,即一部分被反射(入射角=反射角),一部分折射入相鄰的介質(zhì)內(nèi)。超聲波物位計(jì)便是基于上述這一原理進(jìn)行工作的:超聲波物位計(jì)的高頻脈沖聲波由一個(gè)壓電陶瓷換能器(探頭)發(fā)出,其聲源傳感器由一只與一塊或多塊壓電晶體相連的測量膜片組成,而聲波的發(fā)射與接收均通過這些壓電晶片得以實(shí)現(xiàn)。緊接著,壓電晶片供電時(shí)觸發(fā)微小的機(jī)械運(yùn)動(dòng),而此機(jī)械運(yùn)動(dòng)由膜片轉(zhuǎn)換為聲信號(hào)(壓電晶片就是組成壓電陶瓷的主要部件,而超聲波物位計(jì)的核心所在就是其換能器的高頻脈沖聲波源——壓電陶瓷換能器)。
超聲波物位計(jì)在測量顆粒狀物料時(shí),其在現(xiàn)場的測量準(zhǔn)確性與三大因素有關(guān),即超聲波的反射狀況、聲波波長,以及固體顆粒物的粒徑。需要注意的是,當(dāng)顆粒物的粒徑接近或大于聲波波長時(shí),則聲波會(huì)在固體物料表面產(chǎn)生漫反射。又由于漫反射產(chǎn)生作用,使得超聲波的大部分能量都被散射了,且返回?fù)Q能器的只有一小部分的能量,從而導(dǎo)致嚴(yán)重失波的現(xiàn)象。這也就是為什么在某料倉工況中超聲波物位計(jì)使用正確但卻遲遲不能精準(zhǔn)測量的原因。
在上述情況中,因考慮到聲波在實(shí)際安裝環(huán)境中的傳輸易被被測介質(zhì)吸收、散射,為提高其測量準(zhǔn)確性,建議在測量固體顆粒物的粒徑較大的物料時(shí),選擇比實(shí)際料倉高度大2~3倍量程的超聲波物位計(jì)。例如,某料倉倉高5米,則選擇的儀表量程上限就要10~15米,這樣以來,就可以提高探頭高頻脈沖聲波能量,且可以保證物料回波信號(hào)的真實(shí)度以及能量強(qiáng)度。
首先,我們要知道,超聲波物位計(jì)是利用超聲波脈沖信號(hào)(以下簡稱聲波)來傳遞信息的。當(dāng)聲波從一種介質(zhì)向另一種介質(zhì)傳播時(shí),在密度不同、聲波不同的分界面上,其傳播的方向就會(huì)發(fā)生改變,即一部分被反射(入射角=反射角),一部分折射入相鄰的介質(zhì)內(nèi)。超聲波物位計(jì)便是基于上述這一原理進(jìn)行工作的:超聲波物位計(jì)的高頻脈沖聲波由一個(gè)壓電陶瓷換能器(探頭)發(fā)出,其聲源傳感器由一只與一塊或多塊壓電晶體相連的測量膜片組成,而聲波的發(fā)射與接收均通過這些壓電晶片得以實(shí)現(xiàn)。緊接著,壓電晶片供電時(shí)觸發(fā)微小的機(jī)械運(yùn)動(dòng),而此機(jī)械運(yùn)動(dòng)由膜片轉(zhuǎn)換為聲信號(hào)(壓電晶片就是組成壓電陶瓷的主要部件,而超聲波物位計(jì)的核心所在就是其換能器的高頻脈沖聲波源——壓電陶瓷換能器)。
在上述情況中,因考慮到聲波在實(shí)際安裝環(huán)境中的傳輸易被被測介質(zhì)吸收、散射,為提高其測量準(zhǔn)確性,建議在測量固體顆粒物的粒徑較大的物料時(shí),選擇比實(shí)際料倉高度大2~3倍量程的超聲波物位計(jì)。例如,某料倉倉高5米,則選擇的儀表量程上限就要10~15米,這樣以來,就可以提高探頭高頻脈沖聲波能量,且可以保證物料回波信號(hào)的真實(shí)度以及能量強(qiáng)度。
綜上所述,當(dāng)超聲波物位計(jì)安裝于料倉中測量顆粒物時(shí),或者在測量易吸收、散射聲波的固體物料時(shí),必須考慮選擇較大量程以保證其發(fā)射聲波有足夠能量,防止失波現(xiàn)象的發(fā)生。
(深圳計(jì)為自動(dòng)化技術(shù)有限公司研發(fā)中心2017年9月4日發(fā)布)
TAGS : 超聲波物位計(jì)
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